EM övrig provberedning | Categories

Leica Microsystems EM Provberedning -

Kryo CLEM System Korrelativ ljus och elektronmikroskopi (CLEM) kombinerar fördelen med fluorescensmikroskopi (FM) och elektronmikroskopi…

Vävnadsprocessorer Leica TP Endast korrekt beredda vävnader ger användbar mikroskopisk information. Leica Microsystems vävnadsprocessorer…

Proceduren för kritisk punkttorkning är en effektiv metod för torkning av känsliga prov för SEM-applikationer.

Kontrast är ett av de mest kritiska stegen i provberedning för elektronmikroskopi. Dubbelkontrastmetoden för ultratunna sektioner…

Att förbereda inbäddade prover för ultramikrotomen är en delikat uppgift. Eftersom formen på blockytan och rakheten…